Qinsun SUNTEST Witterungsinstrumente

Eine praktische Desktop-Xenonlampe mit verschiedenen Zubehör, maßgeschneidert auf Ihre SUNTEST Bedürfnisse. Hier sehen Sie das Kühlgerät SunCool (für Medikamente/Kosmetik), das Probenaustauschgerät SunTray (für in vitro Sonnenschutzfaktor) und das Einweichengerät SunFlood (für Beschichtungen/Dichtmittel)

SUNTEST CPS+ wird verwendet, um kurzfristige Veränderungen in den Eigenschaften von Materialien zu erkennen, die durch Sonnenlicht, Temperatur und Feuchtigkeit verursacht werden. Die Veränderungen, die im Produkt im Freien oder im Inneren über mehrere Monate oder Jahre auftreten, wie zum Beispiel verblassen, vergilben oder spröde, können in der Regel innerhalb weniger Wochen mit SUNTEST-Testinstrumenten simuliert werden.

Vorteil:

Laut CIE85 erweiterte Sonnenstrahlungssimulation

Optionale Fensterglasfilter zum Filtern von Sonnenlicht usw.

Einfache und benutzerfreundliche Oberfläche, in 11 Sprachen verfügbar

Voreinstellte 300 Stunden Tests, praktisch für schnelle Starteinstellungen oder maßgeschneiderte Tests als Vorlage

Black Label Temperatursensor (BST) kompatibel mitnach ISO 4892-1Standard

Automatische Bestrahlungsregelung zur Erfüllung unterschiedlicher Prüfanforderungen

Zubehör:

SunFlood Tauchgerät für Tests unter extremen Feuchtigkeitsbedingungen

SunCool Kühlgerät, zum Testen in niedrigen Temperaturen (z. B. Kosmetik)

Sonderbestellung:

Größe des Desktop-Designs90 x 35 x 35 cm

28 x 20 cm (560 cm2)Exponierter Bereich

1 luftgekühlt1500 Watt xenon lamp tube

Mikroprozessorsteuerung, ausgestattet mit Programmiertastatur und schwarz-weißem Display

Direkt eingestellt und

Kontrolle der Bestrahlungsintensität (300-400 Nanometer oder 300-800 Nanometer)

Direkte Einstellung und Steuerung der Black Label Temperatur (BST)

Anzeige der Temperatur der Prüfkammer (CHT)

Anzeige von Testwerten und Diagnoseinformationen

Parameterprüfung

Zwei vorprogrammierte Testmethoden plus sechs benutzerdefinierte Tests

Mehrsprachige Unterstützung: Englisch, Deutsch, Italienisch, Französisch, Spanisch, Polnisch, Russisch, Chinesisch

Die horizontale Prüffläche erreicht Max560 cm2. geeignet für flache oder 3D-Proben

Fortgeschrittene Tageslichtssimulation basierend auf CIE85

Der Bestrahlungskontrollbereich ist30-65 W/m2 (300-400 Nanometer); 250-765 W/m2 (300-800 Nanometer)

Langzeitbeschichtetes Quarzfiltrationssystem und selektiver Reflektor

Endtestmodus: Belichtung oder Testzeit

Ausgabedaten über serielle Schnittstelle RS 232